고온 홀 측정 설정

DX-1000H 고온 홀 측정 장치는 전자석, 진공 펌프, 고온 진공 챔버, 가우스 미터, 정전류 소스, 전자석 전류 소스, 온도 컨트롤러, 컴퓨터 및 소프트웨어로 구성됩니다.
홀 효과 측정 시스템은 벌크 캐리어 농도, 시트 캐리어 농도, 이동도, 저항률, 홀 계수, 자기 저항을 측정합니다.

• 전자석 전류원은 전자석에 전류를 공급하여 자기장을 생성합니다.
• 가우스 미터는 전자석에 의해 생성되는 균일한 자기장 값을 측정합니다.
• 한편, 정전류원은 홀 효과 시험을 위한 샘플에 샘플 시험 전류를 공급하고, 다른 한편으로는 샘플에서 피드백된 홀 전압을 측정하는 데 사용됩니다.
• 시험할 시료를 고온 진공 챔버에 넣고 고온 접착제로 고정한 후, 4개의 시험 지점으로 사용한다.
• 고온 진공 챔버에서 4개의 리드가 있는데, 그 중 2개는 온도 측정 및 제어를 위해 온도 컨트롤러에 연결되고, 다른 하나는 가우스 미터에 연결된 고온 프로브의 리드선이며, 다른 하나는 정전류원에 연결된 홀 샘플 연결선에 연결됩니다.
• 컴퓨터는 가우스 미터, 온도 조절기, 정전류원, 전자석 전류원에 연결되며, 소프트웨어는 측정 대상 샘플을 통과하는 전류 및 자기장 값을 제어하여 측정된 전압 값을 얻습니다.

반도체 재료: SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 및 페라이트 재료 등;

저 임피던스 재료: 그래핀, 금속, 투명 산화물, 약자성 반도체 재료, TMR 재료 등.

고저항 재료: 반절연성 GaAs, GaN, CdTe 등

• 자기장: 10mm 간격은 2T이고, 30mm 간격은 1T입니다.
• 샘플 전류: {{0}}.05uA~50mA(조정 가능 0.1nA);
• 측정 전압 : 0.1uV~30V;
• 다양한 시험표준물질 제공, 모든 수준의 실리콘과 갈륨비소화물(감도와 정확도가 다름)
• 최소 해상도: 0.1GS;
• 자기장 범위: 0-1T;
• 가우스 미터나 컴퓨터 통신을 위한 데이터 수집 보드와 함께 사용할 수 있습니다.
• IV 곡선 및 IR 곡선 측정 등
• 홀 계수 및 캐리어 농도와 같은 매개변수의 곡선을 온도에 따라 변경합니다.
• 저항률 범위: 5*10-4~108Ω.cm
• 저항 범위: 10mΩ-100GΩ;
• 캐리어 농도 : 6*108~1023cm-3;
• 이동률 : 1~106cm2/vs;
• 온도 조절 정확도: 0.1K;
• 온도대: 4K-773K (선택 사항)
• 홀 계수: ±1*10-51*1010cm3/C;
• 테스트는 완전 자동화되어 있으며 한 번의 클릭으로 처리됩니다.
• 동일한 온도차를 지속적으로 측정할 수 있습니다.

고정밀 전자석

• 막대 직경 100mm;
• N과 S 사이의 거리가 10mm일 때 최대 자기장은 20000Gs이다.
• N, S 간격이 20mm일 때 최대 13000 가우스
• N과 S 사이의 거리가 30mm일 때 최대 자기장은 10000 가우스이다.
• 균일한 영역: 간격이 60mm일 때 균일성 범위는 직경 10mm에 대해 1%입니다.
• 무게: 브래킷과 바퀴를 포함하여 110kg.

고정밀 바이폴라 정전류 전원공급장치

• 출력: ±10A±80V;
• 전력; 800W;
• 전원 공급 장치 출력 전류는 양과 음의 정격 최대 전류 사이에서 지속적으로 변할 수 있습니다.
• 전류는 전환 없이 원점을 원활하게 교차하고 역전할 수 있습니다.
• 출력 전류 및 전압 4사분면 동작(유도 부하에 적합)
• 전류 변화율은 {{0}}.0007~0.3 FS/s 범위 내에서 설정할 수 있습니다. (FS는 정격 최대 출력 전류입니다.)
• 전류 안정성: ±25ppm/h 이상(표준형), ±5ppm/h 이상(고안정형)
• 현재 정확도: ± (0.01% 설정 값 + 1mA);
• 현재 해상도: 20비트, 예를 들어 15A 전원 공급 장치의 경우 현재 해상도는 0.03mA입니다.
• 소스 효과 : 2.0×10-5 FS 이하 (전원공급 전압이 10% 변할 때 출력 전류가 변함)
• 부하 효과 : 2.0×10-5 FS 이하 (부하가 10% 변할 때 출력 전류 변화)
• 전류 리플(RMS): 1mA 미만.

고정밀 가우스 미터:

• 정확도: 판독값의 ±0.30%
• 해상도: 0.01mT 범위: 0-3T;
• 프로브 두께: 1.0mm;
• 길이 100mm 디지털;
• GP3 프로브가 장착된 Rs-232 인터페이스 데이터 읽기 소프트웨어
• 가우스 미터 프로브 브라켓 및 샘플 홀더 완전 알루미늄 비자성 브라켓 5-70mm 조정 가능;
• 샘플 홀더 고정 장치(요청에 따라 맞춤형 제작)

고온 온도 조절 장치

• 293K-470K) 고온 및 저온 진공 용기
• TESK301 온도 조절 장치: 온도 조절 (65k-600k);
• 진공 펌프 K25 진공 펌프.

정전류원 및 테스트 미터

• 정전류원 범위: ±50nA-±50mA;
• 해상도 0.1nA, 범위 내에서 지속적으로 조정 가능
• 고정밀 전압 데이터 수집 장비 범위 0. 1uV-30V;
• 정확도: 0.01%;
• 테스트 매트릭스 변환 카드 내장
• 오믹 접촉 키트는 다양한 소재의 오믹 접촉을 기반으로 키트를 만듭니다.

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